TriStar II Plus brochure
快速精确的
比表面积测量
比表面积和孔隙度是确定材料质量和用途的
两个重要的物理性质，准确测定以及控制这
些参数非常重要。同样，材料的表面积特别
是孔隙度对材料研究也非常重要，它是了解天然材
料形成、结构、潜在应用的非常关键的参数。
多通道及多用途分析
TriStar II Plus是一款完全自动化分析并带有
三个分析站的比表面积和孔隙度分析仪，它
能够有效提高常规质量控制分析的速度和效率；
同时还拥有高精度、高分辨率和数据简化能
力，以满足大多数研究需求。TriStar II Plus可
兼容多种分析方法和数据简化，用户可优化分析特定的应用。
优点
▪使用标准氮气系统，比表面积测试
最低可达 0.01m2/g。
TriStar II Plus也适用于氩气、二
氧化碳和其他非腐蚀性气体如丁烷、
甲烷或其他轻烃气体。可选配
氪气系统应用于低至
0.001m2/g比表面材料测试。
▪自由空间可以测量、计算或手动输入，提供了极大的灵活性，
以适应特殊类型的样品以及需要时可快速测量。
▪数据简化分析和控制软件MicroActive使用户能交互式地计算比表面和孔隙度。通过图
形界面，用户可以自己选择数据范围分析，从而直接编辑和解读BET，t-plot，Langmuir
和DFT模型结论。
