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粒径

在 Micromeritics,我们提供专为精确粒度分析而设计的仪器,这是从涂料、矿物到制药等行业的一个关键因素。本页介绍了粒度测量的原理、我们采用的先进技术以及我们的技术如何优化您的研究、开发和质量控制流程。

什么是粒径?

粒径指材料中单个颗粒的尺寸,通常以直径衡量。 了解粒径至关重要,因为它会影响材料的物理和化学性质。
测量粒度的两种技术是X 射线沉降法和空气渗透法

X 射线沉降法

X 射线沉降技术利用颗粒在液体介质中沉降时,按尺寸自然分离的特性。 通过 SediGraph(沉降粒度仪),借助软 X 射线的吸收作用,确定各尺寸级别颗粒的质量分数。 此方法在粒径分布较窄的情况下,可实现极佳的分辨率。 完整的颗粒计量机制确保所有加入的样品均被计入,包括 0.1 微米以下的颗粒部分。

空气渗透法

该技术利用填充粉末床的压降原理。 由于粉末堆积密度存在差异,进而导致床层 “孔隙率” 不同,根据 Kozeny-Carmen 方程,可将平均表面积和粒径确定为压降与流量的函数。 SAS 可测量 0.2 微米至 75 微米范围内的粒径,压缩精度小于 0.05 毫米。 此方法所得结果与已确立的费氏亚筛分粒度仪的测量结果具有关联性。

我们的解决方案

仪器

SediGraph III Plus
全自动X光沉降粒度分析仪

通过 X 射线沉降法测量粒度分布

SAS II
全自动亚筛分粒径分析仪

现代全自动升级版费氏亚筛分粒度仪,精确测量粒径、表面积和粉末床孔隙率

服务

我们提供全面的表征服务,无论是单个样品的分析、复杂方法的开发或验证、新产品评估,还是处理大规模制造项目。

可用选项

  • 通过动态光散射(DLS)进行颗粒测定
  • 通过静态光散射进行粒子筛选
  • X 射线沉积技术
  • 透气性 颗粒大小
  • 筛分分析
  • 扫描电子显微镜
  • 光遮蔽
  • Zeta 电位-电荷斥力测量

相关资源

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